老化測試是在有缺陷的電子元件進(jìn)入市場或組裝成電子設(shè)備之前進(jìn)行識別和丟失的預(yù)測方法。隨著半導(dǎo)體電子技術(shù)的發(fā)展，老化測試已成為保證質(zhì)量的關(guān)鍵過程。除了半導(dǎo)體元件外，PCB，IC和Cpu部件通常在老化的環(huán)境中進(jìn)行測試。

老化試驗是對半導(dǎo)體器件施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力，盡快突出原故障的試驗方法。在半導(dǎo)體中，故障可分為以下幾種類型：

1.初始故障發(fā)生在機(jī)器運行的初始階段。隨著時間的推移，初始故障的發(fā)生率降低。

2.隨機(jī)故障發(fā)生時間長，故障發(fā)生率恒定。

3.零件保質(zhì)期結(jié)束時會出現(xiàn)損壞故障。與初始和隨機(jī)故障的發(fā)生率相比，零件經(jīng)歷的損壞和故障越來越多

顯示半導(dǎo)體器件可靠性隨時間變化的曲線稱為故障率曲線，或“浴盆曲線”。觀察曲線警告我們，如果半導(dǎo)體設(shè)備容易出現(xiàn)初始故障，則無需擔(dān)心隨機(jī)故障或損壞故障——其使用壽命在本身的初始階段結(jié)束。為了跟上半導(dǎo)體市場規(guī)范，保持高質(zhì)量的企業(yè)聲譽，必須采取措施提供高度可靠的高質(zhì)量產(chǎn)品。為了確保這種可靠性，第一步是減少初始故障。

老化測試是提高和降低初始故障率的一種方法。通過老化測試可以檢測到半導(dǎo)體中的潛在缺陷。當(dāng)設(shè)備施加的電壓應(yīng)力和加熱并開始運行時，潛在的缺陷變得突出。大多數(shù)初始故障是由使用有缺陷的制造材料和生產(chǎn)階段的錯誤引起的。通過老化測試，只有初始故障率低的部件才能進(jìn)入市場。

半導(dǎo)體設(shè)備的老化測試是最常見的篩選測試，這是有充分理由的。 老化測試從供應(yīng)鏈中去除了早期故障和潛在缺陷概率很高的不可靠組件。 這是所有主要半導(dǎo)體制造行業(yè)都推薦的流程，因為它是分析早期故障趨勢、提高可靠性和估計半導(dǎo)體器件中可用器件小時數(shù)的最佳質(zhì)量保證方法。