適用于BGA, QFN, QFP, SOP, TO, SMD等器件封裝

適用于MOS管, 三極管, IGBT可靠性測(cè)試

可應(yīng)用于HTOL, LTOL, HAST, HAST, HTRB, HTGB, H3TRB大功率老化等，各種Bun-in場(chǎng)景

座子：翻蓋/下壓/直插（材質(zhì)有塑膠和鋁合金）

適用：間距 0.3mm-2.54mm

測(cè)試座材料： Ceramic PEEK, pps, Torlon, PEI, Vespel SP-1

座頭材料： AL, Cu, PPS

導(dǎo)電材質(zhì)： 探針/彈片

工作溫度： -55 ~ 175度（可設(shè)計(jì)帶獨(dú)立溫控老化測(cè)試座）

座子壽命： ＞10萬(wàn)次（因測(cè)試條件不同結(jié)果不同）

彈簧彈力： 15g ~ 30g per Pin