電子產(chǎn)品，無(wú)論是部件、部件、整機(jī)、設(shè)備，都要進(jìn)行老化和測(cè)試.老化和測(cè)試不是一個(gè)概念.測(cè)試前先老化.電子產(chǎn)品（所有產(chǎn)品）通過(guò)生產(chǎn)，形成完整的產(chǎn)品，可以發(fā)揮實(shí)用價(jià)值，但使用后會(huì)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，發(fā)現(xiàn)絕大多數(shù)問(wèn)題發(fā)生在幾小時(shí)到幾十小時(shí)，然后簡(jiǎn)單規(guī)定電子產(chǎn)品老化測(cè)試、模仿或等效產(chǎn)品使用狀態(tài)，由產(chǎn)品生產(chǎn)者完成.通過(guò)再測(cè)試，將有問(wèn)題的產(chǎn)品留給工廠，并將沒(méi)有問(wèn)題的產(chǎn)品交給用戶(hù)，以確保購(gòu)買(mǎi)給用戶(hù)的產(chǎn)品可靠或難較小.這就是老化測(cè)試的價(jià)值.

老化測(cè)試的最終目的是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命，為制造商評(píng)估或預(yù)測(cè)產(chǎn)品的耐久性；隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展和芯片復(fù)雜性的逐年提高，芯片測(cè)試貫穿于整個(gè)設(shè)計(jì)、研發(fā)和加工過(guò)程，變得越來(lái)越有趣.老化測(cè)試是芯片在交付客戶(hù)之前用于去除初始失效產(chǎn)品的重要測(cè)試.為防止反復(fù)焊接，不同包裝類(lèi)型的芯片在老化試驗(yàn)中由特制的老化測(cè)試座固定在老化板上進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證.為了確保銷(xiāo)售給用戶(hù)的產(chǎn)品可靠或問(wèn)題較少；老化測(cè)試分為組件老化和整機(jī)老化，特別是新產(chǎn)品。在評(píng)估新組件和整機(jī)性能時(shí)，老化指標(biāo)較高。

所以測(cè)試只是老化座的許多功能之一，老化座，除了可以作為測(cè)試外，還要考慮其他參數(shù)。

測(cè)試一般是指常溫下，但老化時(shí)，往往需要考慮高溫、低溫、濕度、鹽度下的測(cè)試和長(zhǎng)期測(cè)試時(shí)的排熱效果。塑料耐多少溫度不變形或燃燒！老化座可以在惡劣的環(huán)境下測(cè)試。老化座決定了一個(gè)芯片設(shè)計(jì)后是否可以問(wèn)世；

目前國(guó)內(nèi)也有很做測(cè)試座/老化座的廠家，而且技術(shù)都是已經(jīng)非常的成熟了;像深圳欣同達(dá)科技有限公司 ，做socekt經(jīng)驗(yàn)是豐富;可以根據(jù)客戶(hù)的不同封裝的芯片定制客戶(hù)需求的socket。