RF射頻測試座由幾個(gè)部分組成，首先是測試座外殼+測試座常規(guī)探針+RF射頻同軸連接器。RF在射頻測試座中，除同軸連接器外，大部分結(jié)構(gòu)與普通測試座相似。

RF連接器是射頻同軸連接器，主要用于通信射頻。通過全球通信行業(yè)的共同努力，使RF連接器形成了專業(yè)體系和國際標(biāo)準(zhǔn)，也是連接器的重要組成部分。

當(dāng)前隨著5G以及WIFI6等高速通信標(biāo)準(zhǔn)升級，新的RF芯片廣泛應(yīng)用于手機(jī)、平板電腦、通信基站等通信平臺。RF射頻測試座的需求越來越高，目前主要的RF芯片會(huì)用到老化測試、功能測試以及極端環(huán)境中的特種測試，因此，對RF射頻芯片測試座提出了更高的測試要求。

RF射頻芯片測試座如何制作？產(chǎn)品設(shè)計(jì)依靠于數(shù)據(jù)，包括芯片的尺寸(長度、寬度和厚度)、芯片間距、芯片的形狀、芯片運(yùn)行頻率以及相應(yīng)的插損等數(shù)據(jù)。如果RF芯片功率大，可能需要提供過流需求。

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